Halbierte Zelltechnologie
Neues Schaltungsdesign, geringerer Innenstrom,
geringerer Rs-Verlust
100%iger Dreifach-EL-Test, der eine bemerkenswerte
verringerung der Rate versteckter Risse in Modulen
Geringeres Risiko von Hotspots
Spezielle Konstruktion mit niedrigerer Hot-Spot-Temperatur
Niedrigere LCOE
Höhere Stromerzeugung, niedrigere LCOE
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